Теория тестирования логических устройств

Теория тестирования логических устройств

1 Звезда2 Звезды3 Звезды4 Звезды5 Звезд 3,00
всего оценок: 1
Загрузка...
Универсальный рейтинг: 1.5 Автор: Валерий Кудрявцев Объем: 162 стр.

Жанры:

информатика и вычислительная техника кибернетика математика учебники и пособия для вузов Валерий Кудрявцев книги для студентов и аспирантов прикладная математика

Читать онлайн:

Страница 1 из ?
Загрузка книги...
Страница 1 из ?

Описание:

Книга автора Валерий Кудрявцев. Относится к жанрам: книги для студентов и аспирантов, прикладная математика. Объем: 162 стр.. Дата написания: 2006. Возрастное ограничение: 0+.

Вы можете в один клик скачать книгу ‘Теория тестирования логических устройств’ в форматах fb2, ePub, txt без регистрации. Или же, выбирая подходящий Вам вариант, читать онлайн ‘Теория тестирования логических устройств’ на нашем сайте. Здесь Вы легко сможете выбрать нужную книгу в соответствии со своими предпочтениями.

Если Вы ещё не определились с выбором, то посмотрите разделы «Рейтингов» и «Обзоров книг» нашего сайта, там сможете подобрать книгу или серию книг, которые Вам обязательно понравятся.

Аннотация:

Тестирование логических устройств – активно развивающееся научно-прикладное направление кибернетики, возникшее в середине прошлого столетия. Оно по праву связывается с именем С. В. Яблонского. Тематика направления группируется вокруг задач характеризации тестов и их построения и фокусируется на устройствах, представленных на макро- и структурном уровнях. В книге эта тематика раскрывается на модели логического устройства в его макровиде. Решаются задачи описания сложности тестов для устройств, реализующих булевы функции из классов Поста, а также функции k-значной логики. Приводятся соответствующие процедуры построения таких тестов. Для студентов, аспирантов и специалистов в области надежности и контроля управляющих систем.

Возрастное ограничение: 0+ Дата написания: 2006 Правообладатель: Издательская фирма "Физико-математическая литература"

Реклама. ООО ЛИТРЕС, ИНН 7719571260, erid: 2VfnxyNkZrY

Добавить комментарий

Последние комментарии