Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Жанры:
Читать онлайн:
Книги из серии:
Вам понравится:
Описание:
Книга автора И. О. Атовмян. Относится к жанрам: алгоритмы, модели и методики, тестирование, цифровые технологии. Объем: 6 стр.. Дата написания: 2014. Возрастное ограничение: 0+.
Вы можете в один клик скачать книгу ‘Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств’ в форматах fb2, ePub, txt без регистрации. Или же, выбирая подходящий Вам вариант, читать онлайн ‘Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств’ на нашем сайте. Здесь Вы легко сможете выбрать нужную книгу в соответствии со своими предпочтениями.
Если Вы ещё не определились с выбором, то посмотрите разделы «Рейтингов» и «Обзоров книг» нашего сайта, там сможете подобрать книгу или серию книг, которые Вам обязательно понравятся.
Аннотация:
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.
Реклама. ООО ЛИТРЕС, ИНН 7719571260, erid: 2VfnxyNkZrY


