Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

1 Звезда2 Звезды3 Звезды4 Звезды5 Звезд 3,00
всего оценок: 1
Загрузка...
Универсальный рейтинг: 1.5 Автор: И. О. Атовмян Из серии: Прикладная информатика Научные статьи Объем: 6 стр.

Жанры:

математика программирование алгоритмы И. О. Атовмян модели и методики тестирование цифровые технологии

Читать онлайн:

Страница 1 из ?
Загрузка книги...
Страница 1 из ?

Описание:

Книга автора И. О. Атовмян. Относится к жанрам: алгоритмы, модели и методики, тестирование, цифровые технологии. Объем: 6 стр.. Дата написания: 2014. Возрастное ограничение: 0+.

Вы можете в один клик скачать книгу ‘Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств’ в форматах fb2, ePub, txt без регистрации. Или же, выбирая подходящий Вам вариант, читать онлайн ‘Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств’ на нашем сайте. Здесь Вы легко сможете выбрать нужную книгу в соответствии со своими предпочтениями.

Если Вы ещё не определились с выбором, то посмотрите разделы «Рейтингов» и «Обзоров книг» нашего сайта, там сможете подобрать книгу или серию книг, которые Вам обязательно понравятся.

Аннотация:

В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.



Возрастное ограничение: 0+ Дата написания: 2014 Правообладатель: Синергия

Реклама. ООО ЛИТРЕС, ИНН 7719571260, erid: 2VfnxyNkZrY

Добавить комментарий

Последние комментарии